多晶X射线衍射仪

英文名：Polycrystalline X-ray Diffractometer

型号：SmartLab

制造商：日本Rigaku公司

房间：化学实验楼129   负责人：田正山  联系电话：15937507720

年份：2014年

主要特点：

1. 硅锂固体探测器，接收效率、灵敏度、稳定性好；

2. 无背景微量样品台；高温样品台附件；

3. Topas软件：数据拟合分析和结构精修测定；

4. 配备相应分析软件及国际粉末衍射数据库。

应用范围：

1. 该仪器用于样品的物相定性和定量分析、晶体结构分析、晶粒大小测定、结晶度测定等。

2. 薄膜样品的粗糙度、反射率、密度及厚度分析；纳米材料的粒度和孔径分布以及高分子材料的长周期分析。

3. 适用于化学、材料、环境、食品、药学、生命科学等学科，常与X射线荧光光谱仪（XRF）结合使用。

主要技术参数：

1. X射线发生器：最大输出功率9kW。

2. X射线光管：Cu旋转靶；满载功率9kW；额定电流10~200mA；额定电压20~45kV；最小焦斑尺寸0.4×8mm²。

3. 交叉光路系统：平行光路和聚焦光路自动切换。

4. 双探测器系统：NaI晶体闪烁探测器，0~1×10⁶cps，适合从低角度到高角度检测；一维高速探测器，0~1×10⁹cps，具有高计数模式和去除荧光背景模式功能。

5. 转动方式：θ/θ垂直测角仪，角度测试范围（2θ）-3°~160°，最小步进1/10000°。

6. 配置Johansson Kα₁、小角散射光学系统，薄膜掠入射分析、毛细管分析附件。

   2021-2022学年上学期课表